Кириченко, А., Кондрашкин, Б., Егоров, Ю., & Тен, К. Изучение почвенно-грунтовой толщи с помощью новой технологии электроразведки. Вестник Московского университета. 17, Серия Почвоведение : научный журнал, 4.
Chicago-referens (17:e uppl.)Кириченко, А.В, Б.Е Кондрашкин, Ю.В Егоров, och К.М Тен. "Изучение почвенно-грунтовой толщи с помощью новой технологии электроразведки." Вестник Московского университета. 17, Серия Почвоведение : научный журнал : 4.
MLA-referens (9:e uppl.)Кириченко, А.В, et al. "Изучение почвенно-грунтовой толщи с помощью новой технологии электроразведки." Вестник Московского университета. 17, Серия Почвоведение : научный журнал, , p. 4.
Varning: dessa hänvisningar är inte alltid fullständigt riktiga.