Кириченко, А., Кондрашкин, Б., Егоров, Ю., & Тен, К. Изучение почвенно-грунтовой толщи с помощью новой технологии электроразведки. Вестник Московского университета. 17, Серия Почвоведение : научный журнал, 4.
शिकागो शैली (17वां संस्करण) प्रशस्ति पत्रКириченко, А.В, Б.Е Кондрашкин, Ю.В Егоров, और К.М Тен. "Изучение почвенно-грунтовой толщи с помощью новой технологии электроразведки." Вестник Московского университета. 17, Серия Почвоведение : научный журнал : 4.
एमएलए (9वां संस्करण) प्रशस्ति पत्रКириченко, А.В, et al. "Изучение почвенно-грунтовой толщи с помощью новой технологии электроразведки." Вестник Московского университета. 17, Серия Почвоведение : научный журнал, , p. 4.
चेतावनी: ये उद्धरण हमेशा 100% सटीक नहीं हो सकते हैं.