RAPD - анализ клеточной линии сои с перекресной устойчивостью к оксиманионам вольфрама и ванадия научное издание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Опубликовано в::Цитология и генетика : международный научный журнал / Нац. акад. наук Укрины, Ин-т клеточ. биологии и генет. инженерии 2009, Томт. 43 N4 С. 39 - 44.
Другие авторы: Тищенко, Е.Н (автор)
Формат: SerialComponentPart
Язык:русский
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!